电子元器件电性失效电子元器件失效的四个原因制药机械
时间：2023/07/13 23:00:44 编辑：
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1、lao****en认证信息。董**（实名认证）。《电子元器件失效性分析》由会员分享，可在线阅读，更多相关《电子元器件失效性分析（5页珍藏版）》请在人人文库网上搜索。电子元器件失效性分析与应用赵春平公安部第一研究所摘要：警用装备作为国内特种装备制造业之一，其可靠性、精确性要求非一般企业及产品所能满足，因其关系到现场使用者及人民的生命财产安全，故设备选材更是严之又严。
2、电子元器件作为警用电子系统的基础及核心部件，它的失效及潜在缺陷都将对装备的可靠性产生重要影响。电子器件失效分析的目的是通过确定失效模式和失效机理，提出对策、采取措施，防止问题出现，失效分析对于查明元器件的失效原因并及时向设计者反馈信息是必须的。
电子元器件电性失效相关拓展
电子元器件失效机理
电阻器失效原因及模式与其电子产品的结构，产品工艺特征及电子产品的应用条件存在密切相关性。分析电阻器失效情况，主要由两部分内容组成，一种为漂移参数失效，另一种为致命失效，分析现场应用统计情况，电阻失效情况中，。对不同电阻器的应用情况进行统计分析，其具备的失效机理存在较大差异性1。电阻器失效机理受到电阻器类型不同的影响也存。
金属膜电阻器，电晕电量释放、引线开裂、静电荷影响、电阻膜发生了氧化还原反应、银迁移、电阻膜产生分离、基体破裂、金属膜应用中破裂及电阻膜分布不均等因素诱发2。式主要包括机械性损伤、噪声声音大、基础异常、线路短路、开路及参数漂移等。线绕电阻器应用过程中常发生焊点溶解、绝缘能力差、引线异常、电流联通故障及基础故障等。
电子元器件失效的四个原因
inr999•来源：电源Fan•作者：电源Fan•:56•次阅读扫一扫，分享给好友。元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。1环境温度是导致元件失效的重要因素。温度变化对半导体器件的影响：构成双极型半导体器件的基本单元P-N结对温度的变化很敏感，当P-N结反向偏置时，由少数载流子形成的反向漏电流受温度的变化影响，其关系为：。
ICQ―――温度T0C时的反向漏电流。ICQR――温度TR℃时的反向漏电流。T－TR――温度变化的绝对值。由上式可以看出，温度每升高10℃，ICQ将增加一倍。这将造成晶体管放大器的工作点发生漂移、晶体管电流放大系数发生变化、特性曲线发生变化，动态范围变小。温度与允许功耗的关系如下：。
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